Показать сокращенную информацию

dc.contributor.authorВорсин, Н. Н.
dc.contributor.authorГладыщук, А. А.
dc.contributor.authorТарасюк, Н. П.
dc.contributor.authorЧугунов, С.В.
dc.date.accessioned2020-10-01T07:10:53Z
dc.date.available2020-10-01T07:10:53Z
dc.date.issued2018
dc.identifier.citationАналитические соотношения для ВАХ ХЕМТ на основе GaN / Н. Н. Ворсин [и др.] // Веснік Брэсцкага універсітэта. Серыя 4. Фізіка. Матэматыка – 2018. – № 2. – С. 26–31.ru_RU
dc.identifier.issn2218-0303
dc.identifier.urihttp://rep.brsu.by:80/handle/123456789/2349
dc.description.abstractПолучены аналитические соотношения для вольтамперных характеристик гетеропереходных транзисторов на основе нитрида кремния. Формулы отражают зависимость ВАХ от толщины барь- ерного слоя AlGaN и мольной доли алюминия в нем. Проведено сравнение формульных ВАХ с полученны- ми на основе численного моделирования.ru_RU
dc.language.isoruru_RU
dc.publisherБрГУ имени А.С. Пушкинаru_RU
dc.relation.ispartofseriesСерыя 4. Фізіка. Матэматыка;
dc.titleАналитические соотношения для ВАХ ХЕМТ на основе GaNru_RU
dc.title.alternativeAnalytical Relations for the IVC of HEMT Based on Ganru_RU
dc.typeArticleru_RU


Файлы в этом документе

Thumbnail

Данный элемент включен в следующие коллекции

Показать сокращенную информацию