SnI2 – МАТЕРИАЛ ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ИНФОРМАЦИИ И ПРОИЗВОДСТВА ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЫХ ИЗДЕЛИЙ

Abstract

Приводятся параметры кристаллических решеток -SnI2, -SnI2-модификаций и продуктов за-светки порошка -SnI2. Рассматриваются примеры практического применения тонких слоев дийодида олова для получения как позитивных, так и негативных изображений, а также структур SnI2 -металл-диэлектрик для формирования рельефных металлических изображений. Приводится схема оптической установки для записи голографических дифракционных решеток на структурах SnI2-металл-диэлектрик. Статья подготовлена по материалам доклада 3 ноября 2010 года в рамках «Международной недели науки и техники» (г. Донгуан, КНР).